Historique de la Société et du développement des produits
En 1889 à Berlin, création par Wilhelm Heidenhain d’une entreprise de gravure, qui fabrique des modèles, des enseignes, des divisions et échelles de balance. Après la disparition de l'entreprise à l’issue du dernier conflit mondial, le fils du fondateur créa la société DR. JOHANNES HEIDENHAIN à Traunreut. Les premiers produits furent d’abord des divisions ainsi que des échelles de balances. Bientôt furent commercialisés les premiers lecteurs optiques destinés aux machines-outils Le début des années 60 vit l’avènement des systèmes de mesure linéaire et angulaire à balayage photoélectrique Ces développements ont contribué à l’automatisation de nombreuses machines et équipements de production.
Depuis le milieu des années 70, HEIDENHAIN est devenu un acteur majeur dans les domaines des commandes numériques et des entraînements pour machines-outils.
Dès sa création, l'entreprise pris une orientation résolument très technique. Pour cette raison, Dr. Johannes Heidenhain légua en 1970 les parts de la société à une fondation, garantissant ainsi la pérennité de l’entreprise et son développement technique. Cela permet aujourd’hui à HEIDENHAIN d'investir massivement dans la recherche et le développement.
Historique
1889 | Création à Berlin de l'entreprise de gravure sur métal W. HEIDENHAIN |
1923 | Dr. Johannes Heidenhain intègre l'entreprise familiale |
1928 | Invention du procédé de copie au sulfure de plomb METALLUR |
1948 | Création de la société DR. JOHANNES HEIDENHAIN à Traunreut |
1950 | Invention du procédé DIADUR |
1970 | Création de la fondation à but non lucratif DR. JOHANNES HEIDENHAIN GmbH |
1980 | Décès de Dr. Johannes Heidenhain |
2012 | HEIDENHAIN est représentée dans tous les pays industrialisés |
Projets en métrologie
1961 | Microscopes de mesure photo-électriques |
1966 | Comparateur interférentiel pour l'institut PTB (Physikalisch-Technische Bundesanstalt) |
1971 | Table de mesure angulaire et diviseur pour le PTB |
1977 | Goniomètre de précision pour le PTB |
1989 | Systèmes de mesure angulaire pour le New Technology Telescope NTT |
1999 | Systèmes de mesure angulaire pour le Very Large Telescope VLT |
1999 | Règles de mesure pour comparaison de mesure linéaire international NANO 3 entre de nombreux instituts nationaux de métrologie. |
2001 | Comparateur interférentiel nanométrique pour le PTB |
2003 | Comparaison de mesure angulaire entre HEIDENHAIN, PTB et AIST (institut japonais de recherche national) |
2004 | Comparaison de mesure linéaire entre HEIDENHAIN, PTB et MITUTOYO |
2005 | Comparaison de mesure angulaire entre HEIDENHAIN et PTB |
Historique des divisions de précision
1936 | Règle de mesure en verre, copiée par procédé photo-mécanique, précision ± 0,015 mm |
1943 | Copie de disque gradué, précision ± 3 secondes |
1952 | Les échelles de balances passent en tête des ventes |
1967 | Réseaux sans support, microstructures |
1985 | Marques de référence à distances codées pour règles de mesure incrémentales |
1986 | Règles de mesure à réseaux de phases |
1995 | Réseau plan pour systèmes de mesure 2 coordonnées |
2002 | Structures de réseaux de phases planaires pour encodeur linéaire interférentiel |
2005 | Réseau d'amplitude insensible aux salissures obtenu par ablation laser |
2009 | Réseau de grandes dimensions (400 mm x 400 mm) pour systèmes de mesures dans les industries des semi-conducteurs |
Historique des systèmes de mesure: Systèmes de mesure linéaire
1952 | Lecteurs optiques pour mesure linéaire sur machines-outils |
1961 | Système de mesure linéaire incrémental LID 1, période de division 8 µm / incrément de mesure 2 µm |
1963 | Système de mesure linéaire codé LIC avec 18 pistes, code binaire / incrément de mesure 5 µm |
1965 | Interféromètre à laser pour l'étalonnage des machines-outils |
1966/1968 | Système de mesure linéaire incrémental cartérisé LIDA 55.6 avec ruban de mesure en acier |
1987 | Système de mesure linéaire incrémental cartérisé LS 101, incrément de mesure 0,1 µm |
1987 | Système de mesure linéaire interférentiel à règle nue LIP 101, incrément de mesure 0,02 µm |
1989 | Système de mesure linéaire interférentiel à règle nue LIP 301, incrément de mesure 1 nm |
1994 | Système de mesure linéaire absolu cartérisé LC 181 avec 7 pistes, interface EnDat, longueur de mesure 3 m, incrément de mesure 0,1 µm |
1996 | Système de mesure linéaire absolu cartérisé LC 481 avec 2 pistes, code pseudo aléatoire, EnDat, longueur de mesure 2 m, résolution 0,1 µm |
2005 | Système de mesure linéaire absolu cartérisé LC 183 avec code pseudo aléatoire, EnDat 2.2, longueur de mesure 4 m, résolution 0,005 µm |
2008 | Système de mesure linéaire interférentiel LIP 200 avec période de signal 0,512 µm, pour des vitesses de déplacement jusqu'à 3 m/s |
2010 | Système de mesure linéaire absolu à règle nue LC 4000 avec 2 pistes, code pseudo aléatoire, EnDat 2.2, longueur de mesure jusqu'à 27 m et résolution 1 nm. |
2011 | Système de mesure linéaire absolu cartérisé LC 200 jusqu'à 28 m de longueur de mesure, code pseudo aléatoire, résolutions jusqu'à 10 nm |
Historique des systèmes de mesure: Systèmes de mesure angulaire
1952 | Lecteurs optiques de mesure angulaire |
1957/1961 | Système de mesure angulaire photo-électrique ROD 1 avec 40 000 périodes de signaux/tour, 10 000 traits |
1962 | ROD 1 avec 72 000 périodes de signaux/tour |
1964 | Système de mesure angulaire absolue ROC 15 / résolution 17 bits |
1975 | Système de mesure angulaire incrémental ROD 800, précision ± 1 seconde |
1986 | Système de mesure angulaire incrémental ROD 905, précision ± 0,2 seconde |
1997 | Système de mesure angulaire absolue avec accouplement statorique intégré en version avec arbre creux RCN 723, 23 bits simple tour, interface EnDat, précision ± 0,2 seconde |
2000 | Système de mesure angulaire interférentiel ERP 880 avec 180 000 périodes de signaux/tour, précision ± 0,2 seconde |
2004 | Système de mesure angulaire absolue RCN 727 avec diamètre de l'arbre creux jusqu'à 100 mm |
2009 | Système de mesure angulaire interférentiel ROP 8080 pour Waferprober, 360 000 périodes de signaux/tours |
2011 | Système de mesure angulaire interférentiel miniaturisé ERP 1080 en version Single-Chip-Encoder |
Historique des systèmes de mesure: Capteurs rotatifs
1957/1961 | Capteur rotatif incrémental photo-électrique ROD 1 avec 10 000 traits |
1964 | Capteurs rotatifs incrémentaux standards des séries ROD 2 / ROD 4 |
1981 | Capteur rotatif incrémental ROD 426, standard de l'industrie |
1987 | Capteur rotatif absolu multi-tours ROC 221 S, 12 bits simple tour, 9 bits multi-tours |
1992 | Capteur rotatif incrémental à encastrer ERN 1300 pour des températures de service jusqu'à 120 °C |
1993 | Capteur rotatif simple tour et multi-tours ECN 1300 et EQN 1300 |
1997 | Capteur rotatif magnétique à encastrer ERM 100 |
2000 | Capteur rotatif absolu multi-tours miniaturisé EQN 1100 en version Chip-On-Board |
2000 | Capteur rotatif absolu simple tour ECN 100 avec diamètre d'arbre creux jusqu'à 50 mm |
2004 | Capteur rotatif absolu miniaturisé simple tour et multi-tours ECI 1100 et EQI 1100 avec balayage inductif |
2007 | Capteur rotatif absolu avec“Functional Safety” SIL2/PL d et interface EnDat 2.2 |
Historique des commandes numériques, électroniques
1968 | Visualisation de cotes VRZ 59.4 pour 1 axe |
1974 | Visualisation numérique de cotes HEIDENHAIN 5041 |
1976 | Commandes numériques de positionnement TNC 110 et TNC 120 pour 3 axes |
1979 | Commandes numériques paraxiales TNC 131 / TNC 135 |
1981 | Commande numérique de contournage pour 3 axes TNC 145 |
1984 | Commande numérique pour 4 axes TNC 155, simulation graphique de l'usinage de la pièce |
1995 | Interface série synchrone EnDat pour systèmes de mesure absolue |
1996 | Commande numérique de contournage TNC 426 avec asservissement numérique des entraînements pour 5 axes |
1996 | Kit complet HEIDENHAIN TNC 410 MA avec variateurs et moteurs |
2004 | Commande numérique de contournageiTNC 530 avec programmation alternative smarT.NC |
2007 | Commande numérique de contournage TNC 620 avec HSCI, Serial Controller-Interface |
2011 | Commande numérique de contournageTNC 640 pour un usinage combiné fraisage-tournage |