Menü überspringen

De geschiedenis van de firma en mijlpalen in de productontwikkeling

Het bedrijf is in 1889 opgericht door Wilhelm Heidenhain en is begonnen als metaaletserij die sjablonen, labels, verdelingen en weegschalen maakte. Na de verwoesting van het bedrijf in de 2e Wereldoorlog richtte de zoon van de oprichter de firma DR. JOHANNES HEIDENHAIN in Traunreut op. De eerste producten waren wederom verdelingen en schalen voor prijsweegschalen. Al snel werden optische positiemeetsystemen voor gereedschapsmachines in het programma opgenomen. Aan het begin van de zestiger jaren werd omgeschakeld naar foto-elektrisch tastende lengte- en hoekmeetsystemen. Deze ontwikkelingen maakten voor het eerst de automatisering mogelijk van vele machines en installaties in de maakindustrie.

Sinds midden jaren zeventig van de twintigste eeuw werd HEIDENHAIN ook een steeds belangrijkere producent van besturings- en aandrijftechniek voor gereedschapsmachines.

Van begin af aan heeft de onderneming zich sterk op techniek gericht. Dr. Johannes Heidenhain bracht zijn aandelen in het bedrijf in 1970 onder in een stichting, waarmee het voortbestaan van het bedrijf en, als basis daarvoor, de technische vooruitgang werd veiliggesteld. Dit stelt HEIDENHAIN tegenwoordig in staat zeer veel te investeren in onderzoek en ontwikkeling.

Mijlpalen in de geschiedenis

1889

Oprichting van de metaaletserij W. HEIDENHAIN in Berlijn

1923

Dr. Johannes Heidenhain gaat in het bedrijf van zijn vader werken

1948

De firma DR. JOHANNES HEIDENHAIN begint opnieuw in Traunreut

1950

Uitvinding van het DIADUR-proces: vervaardiging van sterke precisieverdelingen op glas door kopiëren van een originele verdeling

1970

De non-profit DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG GmbH wordt opgericht

1980

Overlijden van Dr. Johannes Heidenhain

2014

HEIDENHAIN is wereldwijd in alle geïndustrialiseerde landen vertegenwoordigd

Mijlpalen op het gebied van meettechniek

1961

Foto-elektrische meetmicroscoop

1966

Interferentiecomparator voor de Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB

1971

Hoekmeettafel en testapparaat voor ronde schaalverdelingen voor de PTB

1977

Precisiegoniometer voor de PTB

1989

Hoekmeetsystemen voor de New Technology Telescope NTT

1999

Hoekmeetsystemen voor de Very Large Telescope VLT

1999

Linialen voor de internationale vergelijking van NANO-3-lengtemetingen
tussen een groot aantal nationale meetinstituten

2001

Nanometer-interferentiecomparator voor de PTB

2003

Vergelijking van hoekmetingen tussen HEIDENHAIN, PTB en AIST (nationaal Japans onderzoeksinstituut)

2004

Vergelijking van lengtemetingen tussen HEIDENHAIN, PTB en MITUTOYO

2004

Hoekmeetsystemen voor de GRANTECAN-telescoop (Gran Telescopio CANARIAS)

2005

Vergelijking van hoekmetingen tussen HEIDENHAIN en PTB

2007

Hoekmeetsystemen voor de 25 Europese ALMA-antennes (Atacama Large Telescope Array)

2013

Hoekmeetsystemen voor de Daniel K. Inouye Solar Telescope (DKIST, voorheen Advanced Technology Solar Telescope, ATST)

Mijlpalen op het gebied van verdelingen

1936

Fotomechanisch gekopieerde glazen liniaal met een nauwkeurigheid van ± 0,015 mm

1943

Gekopieerde ronde schaalverdeling met een nauwkeurigheid van ± 3 boogseconden

1952

Schaalverdelingen voor weegschalen worden de belangrijkste bron van inkomsten

1967

Zelfdragende roosters, microverdelingen

1985

Afstandsgecodeerde referentiemerken voor incrementele verdelingen

1986

Faseroosterverdelingen

1995

Meetplaten voor meetsystemen met 2 coördinaten

2002

Planaire faseverschuivingsstructuren voor interferentiële lengtemeetsystemen

2005

Vervuilingsongevoelige, via laserablatie produceerbare amplituderoosters

2009

Kruisrasters met groot oppervlak (400 mm x 400 mm) voor meetsystemen in de halfgeleiderindustrie

Mijlpalen op het gebied van meetsystemen: open lengtemeetsystemen

1952

Optische linialen voor gereedschapsmachines

1961

Incrementele liniaal LID 1, verdelingsperiode 8 µm / meetstap 2 µm

1963

Absolute liniaal LIC met 18 sporen, binaire code / meetstap 5 µm

1965

Laser-interferometer voor kalibratie van gereedschapsmachines

1987

Open interferentiële liniaal LIP 101, meetstap 0,02 µm

1989

Open interferentiële liniaal LIP 301, meetstap 1 nm

1992

Tweedimensionale interferentiële liniaal PP 109R

2008

Interferentiële liniaal LIP 200 met signaalperiode 0,512 µm, voor verplaatsingssnelheden tot 3 m/s

2010

Open absolute liniaal LIC 4000 met 2 sporen,
PRC, EnDat 2.2 voor meetlengtes tot 27 m en resolutie 1 nm

2012

Absolute liniaal met één spoor LIC 2100

2015

Interferentiële liniaal LIP 6000 in zeer compacte constructie

Mijlpalen op het gebied van meetsystemen: gesloten lengtemeetsystemen

1952

Optische linialen voor gereedschapsmachines

1966

Gesloten incrementele liniaal LIDA 55.6 met stalen maatband

1975

Incrementele liniaal LS 500 met glazen liniaal, meetlengte tot 3 m, meetstap 10 µm

1977

Incrementele liniaal LIDA 300, meetlengte tot 30 m

1994

Absolute liniaal LC 181 met 7 sporen, EnDat-interface, meetlengte tot 3 m, meetstap 0,1 µm

1996

Absolute liniaal LC 481 met 2 sporen, PRC, EnDat, meetlengte tot 2 m

2011

Absolute liniaal LC 200, meetlengte tot 28 m, PRC, meetstap 10 nm

2014

Absolute liniaal LC xx5, meetlengte tot 4 m, meetstap 1 nm

2015

Incrementele liniaal LP 100, meetlengte tot 3 m, meetstap 32,5 pm

Mijlpalen op het gebied van meetsystemen: hoekmeetsystemen

1952

Optische hoekmeetsystemen

1957/1961

Foto-elektrisch hoekmeetsysteem ROD 1 met 40.000 signaalperioden/omw., 10.000 strepen

1962

ROD 1 met 72.000 signaalperioden/omw.

1964

Absoluut hoekmeetsysteem ROC 15 / resolutie 17 bits

1975

Incrementeel hoekmeetsysteem ROD 800, nauwkeurigheid ± 1 boogseconde

1986

Incrementeel hoekmeetsysteem RON 905, nauwkeurigheid ± 0,2 boogseconde

1997

Absoluut hoekmeetsysteem met geïntegreerde statorkoppeling in uitvoering met holle as RCN 723, 23 bits single-turn, EnDat-interface, nauwkeurigheid ± 2 boogseconden

2000

Interferentieel hoekmeetsysteem ERP 880 met 180.000 signaalperioden/omw., nauwkeurigheid ± 0,2 boogseconden

2004

Absoluut hoekmeetsysteem RCN 727 met holle as, max. diam. 100 mm

2009

Interferentieel hoekmeetsysteem ROP 8080, voor wafer prober, combinatie lastlager en hoekmeetsysteem, 360.000 signaalperioden/omw.

2011

Geminiaturiseerd interferentieel hoekmeetsysteem ERP 1080 in single-chip-encoder-uitvoering

Mijlpalen op het gebied van meetsystemen: impulsgevers

1957/1961

Incrementele foto-elektrische impulsgever ROD 1 met 10.000 strepen

1964

Incrementele standaardimpulsgevers van de series ROD 2 / ROD 4

1981

Incrementele impulsgever ROD 426, de industriële norm

1987

Absolute multi-turn impulsgever ROC 221 S, 12 bits single-turn, 9 bits multi-turn

1992

Incrementele inbouw-impulsgever ERN 1300 voor werktemperaturen tot 120 °C

1993

Absolute single-turn en multi-turn impulsgevers ECN 1300 en EQN 1300

2000

Geminiaturiseerde absolute multi-turn impulsgever EQN 1100 in chip-on-board-techniek

2000

Absolute single-turn impulsgever ECN 100 met holle as, max. diam. 50 mm

2004

Geminiaturiseerde absolute single-turn en multi-turn impulsgevers ECI 1100 en EQI 1100 (met inductieve aftasting)

2007

Absolute impulsgever met "Functional Safety" SIL2/PL d en EnDat 2.2-interface

2012

ERN 1387 Incrementele aftasting met verbeterde nauwkeurigheid dankzij nieuw ontwikkelde aftast-ASIC

2014

Absolute impulsgever voor toepassingen tot SIL3/PL e, EnDat 2.2-interface en foutuitsluiting

Mijlpalen op het gebied van besturingen, elektronica

1968

Bidirectionele teller VRZ 59.4 voor 1 as

1974

Digitale uitlezing HEIDENHAIN 5041

1976

Positioneringsbesturingen TNC 110 en TNC 120 voor 3 assen

1979

Baanbesturingen TNC 131 / TNC 135

1981

Baanbesturing voor 3 assen TNC 145

1984

Baanbesturing voor 4 assen TNC 155, grafische simulatie van de werkstukbewerking

1995

Synchrone seriële interface EnDat voor absolute positiemeetsystemen

1996

Baanbesturing TNC 426 met digitale aandrijfregeling voor 5 assen

1996

HEIDENHAIN-totaalpakket TNC 410 MA met omvormer en motoren

2004

Baanbesturing iTNC 530 met alternatieve werkstand smarT.NC

2007

Baanbesturing TNC 620 met HSCI, de seriële controller-interface

2011

Baanbesturing TNC 640 voor gecombineerd frezen/draaien