Hoe wordt de (on)nauwkeurigheid gemeten?

Bewerkingsprocessen binnen o.a. de semiconductor industrie, PCB assemblage machines en meetmachines vragen continu specifiekere meetwaarden om nóg nauwkeuriger data te kunnen aflezen en zodoende het productieproces te verbeteren. De mate van nauwkeurigheid wordt bepaalt hiermee welke (lineaire) encodersystemen worden toegepast. Maar hoe wordt de (on)nauwkeurigheid gemeten?

De interpolatiefout

De nauwkeurigheid wordt onder andere gedefinieerd aan de hand van de interpolatiefout (uitgedrukt in bijvoorbeeld nm). Deze interpolatiefout geeft de mate van lokale onnauwkeurigheid aan door middel van een positiefout per signaalperiode.

Positiefouten kunnen optreden door vervuiling, zoals een vingerafdruk of andere plaatselijke verontreiniging op de encoder. Deze fouten hebben invloed op de afwijking van het meetsignaal. Positiefouten worden daarnaast gevormd door de bijhorende intensiteit van de vervuiling. Denk hierbij aan de grootte en de dikte van de vervuiling. Hoe groter de vervuiling en de interpolatiefout, hoe slechter de signaalkwaliteit en de nauwkeurigheid. HEIDENHAIN geeft met de ASIC HSP 1.0 (HEIDENHAIN Signal Processor) technologie, toegepast in o.a. de LIP open lengtemeetsystemen, antwoord op de behoefte aan een zeer hoge nauwkeurigheid, ofwel een zeer lage onnauwkeurigheid (± 0,01 nm interpolatiefout!).

Klik hier voor meer informatie of neem contact op met uw vertegenwoordiger.