Het bedrijf is in 1889 opgericht door Wilhelm Heidenhain en is begonnen als metaaletserij die sjablonen, labels, verdelingen en weegschalen maakte. Na de verwoesting van het bedrijf in de 2e Wereldoorlog richtte de zoon van de oprichter de firma DR. JOHANNES HEIDENHAIN in Traunreut op. De eerste producten waren wederom verdelingen en schalen voor prijsweegschalen. Al snel werden optische positiemeetsystemen voor gereedschapsmachines in het programma opgenomen. Aan het begin van de zestiger jaren werd omgeschakeld naar foto-elektrisch tastende lengte- en hoekmeetsystemen. Deze ontwikkelingen maakten voor het eerst de automatisering mogelijk van vele machines en installaties in de maakindustrie. Sinds midden jaren zeventig van de twintigste eeuw werd HEIDENHAIN ook een steeds belangrijkere producent van besturings- en aandrijftechniek voor gereedschapsmachines. Van begin af aan heeft de onderneming zich sterk op techniek gericht. Dr. Johannes Heidenhain bracht zijn aandelen in het bedrijf in 1970 onder in een stichting, waarmee het voortbestaan van het bedrijf en, als basis daarvoor, de technische vooruitgang werd veiliggesteld. Dit stelt HEIDENHAIN tegenwoordig in staat zeer veel te investeren in onderzoek en ontwikkeling.
1889
Oprichting van de metaaletserij W. HEIDENHAIN in Berlijn
1923
Dr. Johannes Heidenhain gaat in het bedrijf van zijn vader werken
1948
De firma DR. JOHANNES HEIDENHAIN begint opnieuw in Traunreut
1950
Uitvinding van het DIADUR-proces: vervaardiging van sterke precisieverdelingen op glas door kopiëren van een originele verdeling
1970
De non-profit DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG GmbH wordt opgericht
1980
Overlijden van Dr. Johannes Heidenhain
2014
HEIDENHAIN is wereldwijd in alle geïndustrialiseerde landen vertegenwoordigd
Hoekmeetsystemen voor de Daniel K. Inouye Solar Telescope (DKIST, voorheen Advanced Technology Solar Telescope, ATST)
1936
Fotomechanisch gekopieerde glazen liniaal met een nauwkeurigheid van ± 0,015 mm
1943
Gekopieerde ronde schaalverdeling met een nauwkeurigheid van ± 3 boogseconden
1952
Schaalverdelingen voor weegschalen worden de belangrijkste bron van inkomsten
1967
Zelfdragende roosters, microverdelingen
1985
Afstandsgecodeerde referentiemerken voor incrementele verdelingen
1986
Faseroosterverdelingen
1995
Meetplaten voor meetsystemen met 2 coördinaten
2002
Planaire faseverschuivingsstructuren voor interferentiële lengtemeetsystemen
2005
Vervuilingsongevoelige, via laserablatie produceerbare amplituderoosters
2009
Kruisrasters met groot oppervlak (400 mm x 400 mm) voor meetsystemen in de halfgeleiderindustrie
Optische linialen voor gereedschapsmachines
1961
Incrementele liniaal LID 1, verdelingsperiode 8 µm / meetstap 2 µm
1963
Absolute liniaal LIC met 18 sporen, binaire code / meetstap 5 µm
1965
Laser-interferometer voor kalibratie van gereedschapsmachines
1987
Open interferentiële liniaal LIP 101, meetstap 0,02 µm
1989
Open interferentiële liniaal LIP 301, meetstap 1 nm
1992
Tweedimensionale interferentiële liniaal PP 109R
2008
Interferentiële liniaal LIP 200 met signaalperiode 0,512 µm, voor verplaatsingssnelheden tot 3 m/s
2010
Open absolute liniaal LIC 4000 met 2 sporen,PRC, EnDat 2.2 voor meetlengtes tot 27 m en resolutie 1 nm
2012
Absolute liniaal met één spoor LIC 2100
1966
Gesloten incrementele liniaal LIDA 55.6 met stalen maatband
1975
Incrementele liniaal LS 500 met glazen liniaal, meetlengte tot 3 m, meetstap 10 µm
1977
Incrementele liniaal LIDA 300, meetlengte tot 30 m
1994
Absolute liniaal LC 181 met 7 sporen, EnDat-interface, meetlengte tot 3 m, meetstap 0,1 µm
1996
Absolute liniaal LC 481 met 2 sporen, PRC, EnDat, meetlengte tot 2 m
2011
Absolute liniaal LC 200, meetlengte tot 28 m, PRC, meetstap 10 nm
Absolute liniaal LC xx5, meetlengte tot 4 m, meetstap 1 nm
Optische hoekmeetsystemen
1957/1961
Foto-elektrisch hoekmeetsysteem ROD 1 met 40.000 signaalperioden/omw., 10.000 strepen
1962
ROD 1 met 72.000 signaalperioden/omw.
1964
Absoluut hoekmeetsysteem ROC 15 / resolutie 17 bits
Incrementeel hoekmeetsysteem ROD 800, nauwkeurigheid ± 1 boogseconde
Incrementeel hoekmeetsysteem RON 905, nauwkeurigheid ± 0,2 boogseconde
1997
Absoluut hoekmeetsysteem met geïntegreerde statorkoppeling in uitvoering met holle as RCN 723, 23 bits single-turn, EnDat-interface, nauwkeurigheid ± 2 boogseconden
2000
Interferentieel hoekmeetsysteem ERP 880 met 180.000 signaalperioden/omw., nauwkeurigheid ± 0,2 boogseconden
2004
Absoluut hoekmeetsysteem RCN 727 met holle as, max. diam. 100 mm
Interferentieel hoekmeetsysteem ROP 8080, voor wafer prober, combinatie lastlager en hoekmeetsysteem, 360.000 signaalperioden/omw.
Geminiaturiseerd interferentieel hoekmeetsysteem ERP 1080 in single-chip-encoder-uitvoering
Incrementele foto-elektrische impulsgever ROD 1 met 10.000 strepen
1981
Incrementele impulsgever ROD 426, de industriële norm
Absolute multi-turn impulsgever ROC 221 S, 12 bits single-turn, 9 bits multi-turn
Incrementele inbouw-impulsgever ERN 1300 voor werktemperaturen tot 120 °C
1993
Absolute single-turn en multi-turn impulsgevers ECN 1300 en EQN 1300
Geminiaturiseerde absolute multi-turn impulsgever EQN 1100 in chip-on-board-techniek
Absolute single-turn impulsgever ECN 100 met holle as, max. diam. 50 mm
Geminiaturiseerde absolute single-turn en multi-turn impulsgevers ECI 1100 en EQI 1100 (met inductieve aftasting)
2007
Absolute impulsgever met "Functional Safety" SIL2/PL d en EnDat 2.2-interface
1968
Bidirectionele teller VRZ 59.4 voor 1 as
1974
Digitale uitlezing HEIDENHAIN 5041
1976
Positioneringsbesturingen TNC 110 en TNC 120 voor 3 assen
1979
Baanbesturingen TNC 131 / TNC 135
Baanbesturing voor 3 assen TNC 145
1984
Baanbesturing voor 4 assen TNC 155, grafische simulatie van de werkstukbewerking
Synchrone seriële interface EnDat voor absolute positiemeetsystemen
Baanbesturing TNC 426 met digitale aandrijfregeling voor 5 assen
HEIDENHAIN-totaalpakket TNC 410 MA met omvormer en motoren
Baanbesturing iTNC 530 met alternatieve werkstand smarT.NC
Baanbesturing TNC 620 met HSCI, de seriële controller-interface
Baanbesturing TNC 640 voor gecombineerd frezen/draaien